 |
规格型号 |
Thermo Escalab Xi+ |
| 生产厂家 |
美国Thermo公司 |
| 存放地址 |
主校区知顺楼F302 |
| 负责人员 |
单宇 |
| 联系方式 |
15242602813，0411-84986210 |
| 预约 |
预约 |
| 性能指标 |
1. 检测元素范围：除氢、氦外所有元素；
2. 分析室：μ金属制造，烘烤后真空度优于5×10-8Pa；
3. 进样室：不锈钢制造，烘烤后真空度优于7×10-7Pa；
4. 能量扫描范围：0~1486.6eV；
5. 原始光斑面积：20~900um之间连续可调，调节步长小于10um； |
| 功能及应用 |
利用软X-射线对固体激发，通过对产生的二次电子能量分布进行分析，从而实现位于表面的元素组成进行半定量的分析。通过对样品表面的可控离子刻蚀，可以进一步获得厚度方向上的元素分布信息，从而实现对样品的深度剖析。这对于确定催化剂活性中心、半导体界面处的载流子复合中心及实现相应的缺陷钝化具有不可替代的作用。同时还配有紫外光电子能谱功能，实现价带区域检测。 |
| 样品要求 |
粉末样品大于5mg，块状样品长宽不超过1cm，高度不超过4mm |
| 收费标准 |
实验项目 |
收费单位 |
校内 |
校外 |
其他收费 |
XPS全谱/精细谱 |
元/样 |
300 |
600 |
参见预约平台详细要求 |
|
